CAE中Micro USB插拔力和壽命疲勞分析
MicroUSB插拔力和壽命疲勞分析是連接器行業(yè)在可靠性設(shè)計中所關(guān)心的最基本的問題，通過CAE仿真指出連接器公端卡扣和端子的應(yīng)力與疲勞壽命分析等，為進(jìn)一步改進(jìn)結(jié)構(gòu)設(shè)計提供了理論依據(jù)，為連接器行業(yè)在提高可靠性、降低產(chǎn)品的損壞率、壓縮成本方面起到了顯著的作用。
1、產(chǎn)品問題概述
客戶原始包裝設(shè)計在進(jìn)行插拔時是否會發(fā)生疲勞失效？
有限元科技通過CAE仿真分析發(fā)現(xiàn)，MicroUSB在插拔5000次后，插拔力變小，卡扣疲勞壽命偏低，固需要改善。
有限元科技通過CAE仿真技術(shù)就如何改善給出了建設(shè)性的建議，使得最后產(chǎn)品得到優(yōu)化，有效保證產(chǎn)品質(zhì)量。
2、原圖模型
3、計算結(jié)果
位移插拔力分析
應(yīng)力分析
疲勞壽命分析
4、結(jié)論
MicroUSB公端端子/卡扣的最大等效應(yīng)力未超出材料的屈服強(qiáng)度，材料安全。插入力為12.90N，拔出力為11.43N。其卡扣的疲勞壽命為13304，偏低，而端子疲勞壽命為10^7次，可以認(rèn)為它不會疲勞失效。
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